本实用新型公开了一种半导体芯片微调测试装置，包含底板、侧板、控制箱及检测组件，底板的一侧固定安装有侧板，且底板远离侧板的一侧设有检测组件，底板的上表面上固定安装有控制箱，底板与侧板间设有具有双向微调结构的调节组件，本实用新型在确保测试支架仍可以实现上下和左右调节的功能前提下，对其驱动方式和传动结构做出了改进，利用电气控制高精度的特点，在传动结构中结合转动与滑动结构，通过竖直微调组件控制检测组件的上下移动，通过水平微调组件控制检测组件的前后移动，两个方向的微调均可独立完成，用电动推杆代替人手驱动，大大提高了调节精度，满足微调控制在±1mm的调节范围。