复合式高频电磁波微调测试架
授权
摘要

本实用新型涉及线路板测试技术领域,特别涉及复合式高频电磁波微调测试架,上模设置有电磁波发射点,下模设置有下探针床,下探针床设置有下探针,电磁波发射点位置分别与下探针位置相对应,上模周边还设置有多个电磁波输出端,电磁波发射点电连接于电磁波输出端,电磁波输出端连接有放大开关卡,放大开关卡连接于电磁波发生器。与现有技术相比,本实用新型的复合式高频电磁波微调测试架工作时,通过各个电磁波发射点发出电磁波,电磁波可以穿过绝缘层上的信号点线路与下模的下探针实现导通,解决了因线路板上有绝缘层而无法导通测试的问题,提高测试适用性和便捷性。

基本信息
专利标题 :
复合式高频电磁波微调测试架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021401545.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-15
授权号 :
CN212845492U
授权日 :
2021-03-30
发明人 :
邱勇涛
申请人 :
深圳加都佳电子科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区沙井街道后亭社区后亭第三工业区28号102
代理机构 :
深圳市中科创为专利代理有限公司
代理人 :
谭雪婷
优先权 :
CN202021401545.0
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-03-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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