本实用新型提供了一种芯片管脚位置检测装置及芯片制造系统，所述芯片管脚位置检测装置包括底座、量测板和芯片承接模组，所述量测板上设有与待测芯片的各个待测管脚一一对应的量测孔，所述芯片承接模组能承接所述待测芯片，并带动所述待测芯片向所述量测板运动，以检测所述待测芯片的各个待测管脚是否能够插入到所述量测孔中，由能够快速检查芯片管脚位置是否正常，大大缩短了芯片管脚位置检测时间，提高了检测效率和生成效率。