位置检测装置
专利申请权、专利权的转移
摘要

本发明揭示一种位置检测装置,提供力图实现位置检测装置的小型化、同时分辨率高。本发明的位置检测装置1中,第1电路体10的磁阻电路A及B具有基准磁阻元件+A1、从基准磁阻元件+A1偏移(1/4)λ或(3/4)λ配置的相对于基波的偶次高次谐波补偿用磁阻元件+A3、以及从基准磁阻元件+A1偏移(1/6)λ的相对于基波的三次高次谐波补偿用磁阻元件+A2,第2电路体20的磁阻电路A′及B′具有基准磁阻元件+A′1、将相邻的磁阻元件偏移(1/10)λ配置的相对于基波的五次高次谐波补偿用磁阻元件+A′2和+A′5、以及从基准磁阻元件+A′1偏移(4/15)λ配置的相对于三次高次谐波的五次谐波补偿用磁阻元件+A′2。

基本信息
专利标题 :
位置检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1821710A
申请号 :
CN200510128712.2
公开(公告)日 :
2006-08-23
申请日 :
2005-11-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
白木学多田纯一
申请人 :
株式会社思考技研
申请人地址 :
日本神奈川县
代理机构 :
上海专利商标事务所有限公司
代理人 :
沈昭坤
优先权 :
CN200510128712.2
主分类号 :
G01B7/00
IPC分类号 :
G01B7/00  G01D5/12  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
法律状态
2021-09-10 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移IPC(主分类) : G01B 7/00
登记生效日 : 20210827
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 新思考科技株式会社
变更后权利人 : 新思考电机有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 日本神奈川县
变更后权利人 : 日本神奈川县
2013-04-03 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101557194124
IPC(主分类) : G01B 7/00
专利号 : ZL2005101287122
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 株式会社思考技研
变更后权利人 : 新思考科技株式会社
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 日本神奈川县
变更后权利人 : 日本神奈川县
登记生效日 : 20130308
2009-08-26 :
授权
2006-10-18 :
实质审查的生效
2006-08-23 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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