一种芯片打标位置检测治具

授权

摘要

本实用新型提供了一种芯片打标位置检测治具，包括：底座，设有第一限位销，载有芯片的基板通过所述第一限位销设置在所述底座上；以及透明检测板，通过第二限位销与所述底座连接，所述基板设置在所述底座与所述透明检测板之间，所述透明检测板上设有每个芯片打标位置框。本实用新型的一种芯片打标位置检测治具，可直接通过所述打标位置框直接核对每个芯片的打标位置，不需要一个个标尺检测，极大的提高了芯片打标位置检测的效率，降低了检测成本。

基本信息

专利标题：

一种芯片打标位置检测治具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022181966.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-28

授权号：

CN212988199U

授权日：

2021-04-16

发明人：

娄飞

申请人：

南通市万泰精密模具有限公司

申请人地址：

江苏省南通市丁堰镇鞠庄村27组29号

代理机构：

苏州瞪羚知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

周治宇

优先权：

CN202022181966.3

主分类号：

G01B5/00

IPC分类号：

G01B5/00