雷达测试系统
授权
摘要

本实用新型提供一种雷达测试系统,包括微波暗室、均设于所述微波暗室内的射频测试设备和第一机械手,所述射频测试设备与所述第一机械手电连接,所述第一机械手用于安装待测雷达并可带动所述待测雷达对准所述射频测试设备沿预设轨迹扫描,所述微波暗室设有供所述第一机械手伸出更换待测雷达的上料窗口。本实用新型提供的雷达测试系统通过微波暗室模拟自由空间环境,能够实现全天候的雷达测试工作,不受环境因素干扰;其次,通过第一机械手携带待测雷达进行高精度的扫描测试,定位精度高,能够实现精准测试;并且由于微波暗室设有上料窗口,在进行批量测试时无需人员进出所述微波暗室内更换待测雷达,测试效率高。

基本信息
专利标题 :
雷达测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922177866.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-06
授权号 :
CN211856880U
授权日 :
2020-11-03
发明人 :
东君伟冼育览卜景鹏毛记平乔梁
申请人 :
中山香山微波科技有限公司
申请人地址 :
广东省中山市火炬开发区中山港大道99号金盛广场1号商业楼606房
代理机构 :
深圳瑞天谨诚知识产权代理有限公司
代理人 :
王昌花
优先权 :
CN201922177866.0
主分类号 :
G01S7/40
IPC分类号 :
G01S7/40  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01S
无线电定向;无线电导航;采用无线电波测距或测速;采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测;采用其他波的类似装置
G01S7/00
与G01S13/00,G01S15/00,G01S17/00各组相关的系统的零部件
G01S7/02
与G01S13/00组相应的系统的
G01S7/40
监测或校准装置
法律状态
2020-11-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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