一种芯片测试方法和测试系统
公开
摘要
本申请涉及电子技术领域，特别涉及一种芯片测试方法及测试系统。该方法用于对待测芯片中预设数量的测试信号进行测试，包括：确定芯片中用于测试的输出端口的个数和每一个输出端口所需输出的测试信号的数量；在芯片内部设置与每一个测试输出端口对应的标记信号；针对每一个测试输出端口，基于芯片内部设置的并串信号转换器，根据时钟信号按照预设采样频率对测试输出端口所需输出的测试信号和对应的标记信号进行采样，将得到的串行信号从测试输出端口输出；利用可编辑逻辑器件将接收到的串行信号进行恢复，得到预设数量的测试信号，利用逻辑分析仪对该预设数量的测试信号进行测试。该方法能够节省芯片测试用输出端口，降低芯片的开发周期和成本。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试方法和测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578212A
申请号 ：
CN202210211437.4
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-02-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
赵宁侯建桥
申请人 ：
集睿致远（厦门）科技有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市湖里区火炬高新区软件园三期溪西山尾路3号402-9单元
代理机构 ：
北京格允知识产权代理有限公司
代理人 ：
周娇娇
优先权 ：
CN202210211437.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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