一种芯片的测试电路、方法以及测试系统
实质审查的生效
摘要
本申请公开了一种芯片的测试电路、方法以及测试系统，芯片的测试电路基于测试机发送的测试信号对芯片进行测试；该测试电路包括：开关、电感以及负载电容；开关的第一端连接测试机的第一电源或第二电源，开关的第二端连接芯片的电压输入端；电感的第一端连接测试机的第一电源，电感的第二端连接芯片的开关管；负载电容的第一端连接测试机的电压输出端以及芯片的电压输出端，第二端接地，并且测试机的电压输出端与芯片的电压输出端相连。通过测试电路连接芯片与测试机的不同电源，实现对芯片中多个功能模块的测试。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片的测试电路、方法以及测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114518527A
申请号 ：
CN202210148001.5
公开（公告）日 ：
2022-05-20
申请日 ：
2022-02-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈立志
申请人 ：
上海艾为电子技术股份有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区秀文路908弄2号1201室
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
郭化雨
优先权 ：
CN202210148001.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220217
申请日 : 20220217
2022-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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