转换器芯片测试电路及系统
公开
摘要
本申请涉及一种转换器芯片测试电路及系统。转换器芯片测试电路中，逻辑控制单元用于在接收到上位机发送的数字波形测试数据之后，将数字波形测试数据发送给数模转换电路，数模转换电路用于将数字波形测试数据转换为模拟波形测试数据，并将模拟波形测试数据发送给信号调理电路，信号调理电路用于在对模拟波形测试数据进行信噪比提升之后，将模拟波形测试数据发送给目标待测芯片，以供目标待测芯片将模拟波形测试数据转换为数字波形测试反馈数据，并发送给上位机，上位机用于根据数字波形测试数据和数字波形测试反馈数据，获得目标待测芯片的测试结果。本申请实施例提供的转换器芯片测试电路及系统能够保证目标待测芯片的测试结果的准确性。
基本信息
专利标题 ：
转换器芯片测试电路及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624571A
申请号 ：
CN202210238785.0
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-03-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
史新建吉润宰魏俊杰王少帅
申请人 ：
合肥悦芯半导体科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
蒋姗
优先权 ：
CN202210238785.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R15/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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