集成电路装置上自动老化测试的系统和方法
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摘要

本文描述了用于测试系统的各实施例,该测试系统使用至少一个测试室和测试器在测试温度范围下执行电子装置的老化测试。所述至少一个测试室是无门的并且具有框架,该框架限定用于接收容纳电子装置的至少一个老化板的室开口。该测试器包括:主框架;多个承载盒,其安装到主框架并且容纳该容纳电子装置的至少一个老化板;门板,其在测试器的前端处以允许进入测试器;以及壁板,其设置在与门板相对的表面上。壁板被放置成邻近至少一个测试室的室开口并且固定到至少一个测试室的室开口,以在测试期间提供空气和温度密封。

基本信息
专利标题 :
集成电路装置上自动老化测试的系统和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111051902A
申请号 :
CN201880055274.7
公开(公告)日 :
2020-04-21
申请日 :
2018-07-25
授权号 :
CN111051902B
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
S·L-M·张
申请人 :
皇虎科技(加拿大)有限公司
申请人地址 :
加拿大安大略省
代理机构 :
北京市中伦律师事务所
代理人 :
钟锦舜
优先权 :
CN201880055274.7
主分类号 :
G01R31/20
IPC分类号 :
G01R31/20  G01R31/302  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/20
••制备物品或样品以便于进行测试
法律状态
2022-05-27 :
授权
2020-08-21 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/20
申请日 : 20180725
2020-04-21 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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