一种自动老化测试装置及测试架
授权
摘要
一种自动老化测试装置及测试架，自动老化测试装置设置有与待测产品相匹配的测试插座和测试板，测试插座与测试板电连接。通过待测产品的电源插头和待测试产品电源插座进行插接，待测产品的测试插头和待测试产品测试插座进行插接，待测试产品插座与测试板装配成老化测试装置，且待测试产品插座和测试板一一对应。自动老化测试装置，通过在不同温度情况下，测试待测产品不同温度所对应的功率，从而检测待测产品是否符合该产品的使用标准。该自动老化测试装置具有测试操作简便、可自动切换不同温度测试的特点。使用不同的温度测试，可减少测试过程中的误差，使测量结果更加可靠。该测试装置的测试过程可视化，便于用户随时连接测试过程及测试结果。
基本信息
专利标题 ：
一种自动老化测试装置及测试架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020016690.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-06
授权号 ：
CN212207523U
授权日 ：
2020-12-22
发明人 ：
吴襄平郑锦清陈俊升宁远福
申请人 ：
深圳市臻上科技发展有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区福田街道彩田路星河世纪大厦A座806
代理机构 ：
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
赵蕊红
优先权 ：
CN202020016690.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/01 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-12-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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