一种CPU老化测试平台
授权
摘要
一种CPU老化测试平台，在机座中心固定机器人，机器人中部置有相机，机器人顶部置有机械臂，机械臂连接机械手，机座四周固定围栏，机座上部固定机柜，机座左部安装进料输送带、合格产品输出带、不合格产品输出带，上机柜、下机柜、右机柜内固定有柜体工位，柜体工位内置有治具，治具前端下部置有进出产品载盘，进出产品载盘中间置有待测产品，治具前端左部置有PID温度显示器，治具顶端左部置有散热风扇，治具顶端右部置有入风口风扇，治具中心置有上下升降的保温腔体，上下升降的保温腔体内置有温度加热丝。计算机内置有视觉算法定位软件，可以控制机械手实现无人工干预的CPU芯片产品的带电老化自动测试作业。
基本信息
专利标题 ：
一种CPU老化测试平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021202444.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-17
授权号 ：
CN212569042U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
谢建升
申请人 ：
苏州高测智能系统有限公司
申请人地址 ：
江苏省昆山市玉山镇登云路268号1号房311室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021202444.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 B07C5/344 B07C5/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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