一种老化测试电路板
授权
摘要
本实用新型公开了一种老化测试电路板，其至少包括：母板；多个子板，电性连接于所述母板；端子，固定在所述母板的一侧；插槽，设置在所述端子的一侧，且所述插槽允许所述子板倾斜插入；多个弹簧片，安装在所述插槽的槽壁上；以及金属触片，设置在所述子板的一端，所述金属触片与所述弹簧片电性连接。通过本实用新型提供的老化测试电路板，使老化板和芯片装载底座的维修拆装更加便捷。
基本信息
专利标题 ：
一种老化测试电路板
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122482003.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-14
授权号 ：
CN216351070U
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
张帆
申请人 ：
合肥康芯威存储技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦6105室
代理机构 ：
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
王积毅
优先权 ：
CN202122482003.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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