本实用新型涉及电路板测试设备技术领域，且公开了一种电路板高温老化测试箱，包括箱体，所述箱体的内部活动卡接有安装框，所述安装框的底面固定连接有下支撑板，所述下支撑板的顶面开设有卡槽，所述下支撑板的底面开设有螺纹孔，所述螺纹孔的内表面螺纹套接有螺栓，所述安装框的顶面固定连接有顶板。该电路板高温老化测试箱，通过在箱体的内部增设安装框，并在安装框的底部固定连接下支撑板以及在安装框顶部的顶板下方弹簧连接上支撑板，将电路板竖直沿着上支撑板和下支撑板卡入，并通过旋转螺栓向上顶出电路板，使得电路板下部从卡槽中脱出，减小电路板的遮挡面积，提高升温速度和升温均匀性，提高测试效果，使用效果好。