本发明公开了一种高温高湿老化测试箱，包括箱体、烘箱、水箱、老化组件、驱动组件、控制组件和去湿线架组，驱动组件、控制组件和去湿线架组均设置在所述箱体内，老化组件设置在所述烘箱内，老化组件包括老化架和设置在所述老化架上的老化板，控制组件包括工控机，驱动组件包括驱动板架和设置在驱动板架上的驱动板，老化板通过驱动板与工控机电性连接，水箱固定在烘箱的下端，水箱与烘箱连通，去湿线架组包括风机、漏斗罩、集风罩和集线罩，集线罩设置在所述集风罩的一侧，集线罩和集风罩均设置在漏斗罩的上端，集风罩和漏斗罩均与所述集线罩相通，风机的出风口与集风罩的进风口相对设置。能通过独立的烘箱和水箱，对芯片进行高温高湿测试。