一种SSD高温老化测试设备
授权
摘要
本实用新型实施例公开了一种SSD高温老化测试设备，涉及SSD技术领域，该SSD高温老化测试设备包括箱体、供电单元以及多个卡槽承载机构，所述卡槽承载机构设有多个卡槽本体，所述卡槽本体用于与待测SSD连接；多个所述卡槽承载机构层叠排列设置在所述箱体内，所述供电单元分别与各所述卡槽承载机构连接。该SSD高温老化测试设备有效地解决了目前市面上大都是对SSD进行拔插等物理测试，并不能够对SSD集中进行运行环境测试，容易导致SSD测试中对SSD运行环境的参数造成遗漏，未能对SSD高温老化测试的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种SSD高温老化测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123011992.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-02
授权号 ：
CN216562467U
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
李创锋
申请人 ：
深圳市金泰克半导体有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市坪山新区聚龙山3号路长方照明工业园B栋一、四层
代理机构 ：
深圳智汇远见知识产权代理有限公司
代理人 ：
蒋学超
优先权 ：
CN202123011992.2
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2022-05-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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