一种固态硬盘高温老化测试设备

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摘要

本实用新型适用于高温老化设备技术领域。提供一种固态硬盘高温老化测试设备，包括：壳体；设于壳体内的内胆，内胆内设有老化室，老化室的内表面设有与外界电源电连接的第一导电件；以及可推入老化室的老化测试架，老化测试架包括架体和设于架体上的测试板，架体上设有与测试板电连接并与第一导电件配合设置的第二导电件；老化测试架推入老化室时，第二导电件与第一导电件配合接触实现电连接。本实用新型提供的固态硬盘高温老化测试设备利用第二导电件与第一导电件配合接触实现测试板的供电，测试过程操作简单方便，且使得固态硬盘高温老化测试设备的结构简单，大大降低了固态硬盘高温老化测试设备的生产成本。

基本信息

专利标题：

一种固态硬盘高温老化测试设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020508858.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-09

授权号：

CN211788187U

授权日：

2020-10-27

发明人：

倪黄忠余辉

申请人：

深圳市时创意电子有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区新桥街道新发东路7号一层至三层；在上南东路新丰泽工业区A区2号厂房设有经营场所

代理机构：

深圳盛德大业知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

贾振勇

优先权：

CN202020508858.X

主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

G11C29/56