一种固态硬盘老化数量测试装置
实质审查的生效
摘要

本发明实施例提供了一种固态硬盘老化测试装置,包括:开关电源、拓展模块和固态硬盘;所述拓展模块包括第一端口、第二端口和5V电源模块;所述开关电源的12V输出端连接所述第一端口;所述第一端口连接所述5V电源模块,所述5V电源模块用于将所述12V电压转换为5V电压,并通过所述第二端口输出所述5V电压至所述固态硬盘;所述固态硬盘还连接主板以接收数据传输。通过在现有技术常规方案的基础上增加一个5V电源模块,可在不变动现有开关电源型号的情况下提升了单次固态硬盘的老化数量以及老化准确率,即提高了产能也降低了成本。

基本信息
专利标题 :
一种固态硬盘老化数量测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114443384A
申请号 :
CN202111621888.7
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王欣
申请人 :
深圳市德明利技术股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路136号深圳新一代产业园1栋A座2501、2401
代理机构 :
深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
何兵
优先权 :
CN202111621888.7
主分类号 :
G06F11/22
IPC分类号 :
G06F11/22  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20211228
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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