一种通用型SOP老化测试座

授权

摘要

本实用新型公开了一种通用型SOP老化测试座，包括上盖组件和下盖组件，上盖组件与下盖组件一侧铰接连接，上盖组件与下盖组件另一侧卡扣连接；下盖组件包括有底座、测试接触模组、及压块模组，测试接触模组位于底座中，压块模组位于测试接触模组上方；底座上设置有用于调节测试接触模组间距的Y向滑轨，底座上还设置有用于适应IC长度的X向卡位。本实用新型设置上盖组件和下盖组件，在下盖组件上设置可适用不同IC宽度的Y向滑轨，以及设置可适用不同IC长度的X向卡位，同时在上盖组件上设置弹性下压结构，上盖组件和下盖组件压合时，将IC引脚通过与金属弹片接触连接外部测试装置，测试效率高，能兼容不同型号IC，成本较低。

基本信息

专利标题：

一种通用型SOP老化测试座

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921062993.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-07-08

授权号：

CN210323274U

授权日：

2020-04-14

发明人：

唐怀东陈家锋段超毅

申请人：

深圳凯智通微电子技术有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区福永街道稔田社区稔田工业区第14栋第二层

代理机构：

深圳市中科创为专利代理有限公司

代理人：

梁炎芳

优先权：

CN201921062993.X

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04