一种用于集成电路通用编程测试设备
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种用于集成电路通用编程测试设备,包括台面,台面上固定有导轨,导轨上滑动设置有导轨副,两个导轨副上固定有支撑台,支撑台上设置有内腔,内腔的内壁两侧均固定有轴套,轴套内转动设置有支撑轴,支撑台上固定有电机,电机的转轴与支撑轴通过联轴器固定,支撑轴上设置有螺纹凸起,螺纹凸起上螺纹设置有螺纹套,螺纹套上固定有限位杆,内腔的内壁上设置有与限位杆滑动设置的限位孔,限位杆上固定有移动夹板,支撑台上固定有定位板,移动夹板和定位板之间夹持有电路板。本发明通过移动夹板的对向移动,配合定位板能够对电路板进行有效的夹持定位,配合导轨副与导轨的相对滑动,使得电路板可前后滑动,使其与测试笔进行接触测试。

基本信息
专利标题 :
一种用于集成电路通用编程测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114325327A
申请号 :
CN202111643500.3
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈冬兵
申请人 :
苏州欣华锐电子有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区双马街2号星华产业园16号楼北2楼
代理机构 :
苏州国诚专利代理有限公司
代理人 :
刘晨
优先权 :
CN202111643500.3
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211229
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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