一种集成电路高速数字接口通用检测装置及方法
公开
摘要
本发明公开了一种集成电路高速数字接口通用检测装置及方法，包括中低速数字测试通道母板和高速数字接口测试通道子板，所述中低速数字测试通道母板包括测试处理器、中低速测试通道单元，中低速测试通道组上设置有高速测试通道子板接口；所述高速数字接口测试通道子板包括测试处理器母板接口、FPGA代码配置发生器、可配置接口协议的高速测试通道驱动用FPGA、高速测试通道单元、可重配置测试数据处理器，所述测试处理器母板接口与中低速测试通道组的高速测试通道子板接口连接。本发明既可以满足一般IO口的中低速测试要求，也可以满足高速接口的测试。既可以获得FPGA方案的高灵活性，同时可以获得中低端ATE机台的较低成本。
基本信息
专利标题 ：
一种集成电路高速数字接口通用检测装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563691A
申请号 ：
CN202210464146.6
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-04-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
毛国梁李全任
申请人 ：
南京宏泰半导体科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市浦口区兰花路19号江苏可成科技产业园南园26号楼2层
代理机构 ：
南京新众合专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
彭雄
优先权 ：
CN202210464146.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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