数字PCIE接口测试装置

授权

摘要

数字PCIE接口测试装置，属于接口测试领域，PCIE数据传输内循环单元与PCIE接口转换单元相连接，PCIE数据传输内循环单元与MCU控制单元连接，时钟发生电路与PCIE数据传输内循环单元连接，外扩I2C控制电路分别与PCIE数据传输内循环单元和MCU控制单元连接，效果是兼容通用网络接口，能够实时提供测试数据的传输，能够提供PCIE3x8和PCIE3x16接口电路，可以同时对两种PCIE外接设备进行数据采集和控制。

基本信息

专利标题：

数字PCIE接口测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020347213.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-03-19

授权号：

CN211653638U

授权日：

2020-10-09

发明人：

福德·伽俐俐

申请人：

伊派克科技(大连)有限公司

申请人地址：

辽宁省大连市经济技术开发区福泉北路20号

代理机构：

大连智高专利事务所(特殊普通合伙)

代理人：

毕进

优先权：

CN202020347213.2

主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/22