一种集成电路测试连接装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种集成电路测试连接装置，包括支撑机构、散热机构、驱动机构、升降机构、固定机构、转接口和转换头，所述支撑机构包括支撑腿、支撑底板、安装架，所述支撑腿设置在支撑底板的下表面，所述安装架设置在支撑底板的上表面，所述散热机构包括吹风机和散热口，所述吹风机设置在安装架的上方，所述驱动机构包括电机、移动箱、齿轮一、支撑杆，所述电机设置在安装架的上表面，所述升降机构包括转动钮、转动轴、齿轮二、齿轮三、螺纹杆，所述固定机构包括固定板、卡板和插口，所述转接口设置在安装架的右侧，所述转换头设置在安装架的左侧，本实用新型通过设置散热机构对放置腔内进行散热，并且升降机构能够对转接口和转换头进行防尘。
基本信息
专利标题 ：
一种集成电路测试连接装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022355804.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-21
授权号 ：
CN214122395U
授权日 ：
2021-09-03
发明人 ：
马艳王晓莹田梅安
申请人 ：
苏州港芯科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市张家港经济技术开发区(市高新技术创业服务中心)B幢209-210室
代理机构 ：
北京化育知识产权代理有限公司
代理人 ：
尹均利
优先权 ：
CN202022355804.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 H05K7/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-09-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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