本实用新型涉及电连接头技术领域，且公开了一种集成电路测试的连接头，包括连接头，所述连接头的正面开设有透风孔，所述连接头的正面活动连接有螺栓，所述连接头的顶部活动连接有转轴，所述转轴的外壁活动连接有套环，所述套环的外壁活动连接有防尘条，所述防尘条的外壁开设有圆孔，所述连接头的外壁开设有连接口，所述连接口的内壁活动连接有定位套，所述连接头的一侧固定连接有连接板，所述连接板的一侧活动连接有电线。该集成电路测试的连接头，达到了使用寿命长的目的，从而解决了一般集成电路测试的连接头使用寿命短的问题，使连接头可以散热，且对连接头进行防护，更加方便了人们的使用，满足了人们的使用需求。