一种基于开尔文测试的全新测试插座

授权

摘要

本实用新型涉及一种基于开尔文测试的全新测试插座，包括上盖板、测试座主体和下盖板，测试座主体内设置两个通孔一，上盖板上设置两个通孔二和两个通孔三，通孔二和通孔三分别正对对连通设置且通孔二和通孔三的中心轴线重合，下盖板上设置一个长圆孔和两个通孔四，两个通孔四对称设置于长圆孔的正下方，且通孔四和长圆孔连通，测试探针穿设于通孔二、通孔三、通孔一、长圆孔和通孔四内。本实用新型通过上盖板和测试座主体控制测试探针的位置度，通过下盖板的长圆孔控制测试探针的偏转角度，通过下盖板内的通孔四控制测试探针向外张的距离，从而严格控制两个测试探针的距离，达到安全精确测试的目的，而且加工简单。

基本信息

专利标题：

一种基于开尔文测试的全新测试插座

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921991027.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-11-18

授权号：

CN211478382U

授权日：

2020-09-11

发明人：

刘凯周庆飞杨宗茂

申请人：

苏州韬盛电子科技有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市苏州工业园区唯文路18号

代理机构：

合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

刘跃

优先权：

CN201921991027.6

主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/04