跨芯片访问控制的检测系统
授权
摘要
本发明涉及一种跨芯片访问控制的检测系统，包括一个待测Die和多个仿真封装模块，每一仿真封装模块包括至少一个仿真Die，待测Die与多个仿真封装模块根据预设的连接通路仿真连接，待测Die能够向多个仿真Die发送预设N种请求类型的请求指令；待测Die包括请求收发模块和N个调度模块，每一请求类型对应一个调度模块；请求收发单元用于获取待测Die的测试请求信息，并根据请求类型发送给对应的调度模块；调度模块用于生成待发送请求指令，发送给对应的仿真Die，接收仿真Die返回的响应信息；还基于所述访问控制表和接收的响应信息检测待测Die与仿真Die之间的通信是否存在故障，以及更新访问控制表。本发明能够提高跨芯片访问控制的检测准确度和效率。
基本信息
专利标题 ：
跨芯片访问控制的检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114048520A
申请号 ：
CN202210024239.7
公开（公告）日 ：
2022-02-15
申请日 ：
2022-01-11
授权号 ：
CN114048520B
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
沐曦集成电路（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
代理机构 ：
北京锺维联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
丁慧玲
优先权 ：
CN202210024239.7
主分类号 ：
G06F21/71
IPC分类号 ：
G06F21/71 G06F30/3308
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F21/00
防止未授权行为的保护计算机、其部件、程序或数据的安全装置
G06F21/70
保护特定的内部或外部计算机组件,即保护一个组件从而保护整个计算机
G06F21/71
确保安全计算或信息处理
法律状态
2022-04-08 ：
授权
2022-03-04 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 21/71
申请日 : 20220111
申请日 : 20220111
2022-02-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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