芯片焊接质量检测仪
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种芯片焊接质量检测仪,包括工作台、显示器、光源、摄像机、放大镜组和光学反光镜,摄像机连接在工作台支架上,显示器和摄像机信号连接,放大镜组连接在摄像机上,光源和光学反光镜设于工作台上。通过光源从两侧照射贴装芯片焊点空间,光学反光镜利用光通道从水平方向采集焊点轮廓图像信息,经放大镜组放大后由摄像机传送到显示器中,从而在显示器上可以方便、清晰的观察到焊点成型后的图像,判断焊点焊接质量,以便进一步调整、控制贴装过程。整个操作过程简单、灵活,图像轮廓清晰,占用空间小、使用成本低,特别适于对BGA类芯片进行焊点成型后的检测。
基本信息
专利标题 :
芯片焊接质量检测仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820110260.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-08-28
授权号 :
CN201251555Y
授权日 :
2009-06-03
发明人 :
赵永先
申请人 :
赵永先
申请人地址 :
733000甘肃省武威市东大街发展巷25-1-231号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200820110260.4
主分类号 :
G01N21/956
IPC分类号 :
G01N21/956 G01N21/01
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/956
检测物品表面上的图案
法律状态
2018-09-21 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 21/956
申请日 : 20080828
授权公告日 : 20090603
申请日 : 20080828
授权公告日 : 20090603
2009-06-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN201251555Y.PDF
PDF下载