一种芯片质量检测的测试机用放置台
授权
摘要

本实用新型公开了一种芯片质量检测的测试机用放置台,包括底座,所述底座上端中部固定设置有放置台,所述放置台侧边中部均固定设置有第二气缸安装板,四个所述第二气缸安装板上端均固定设置有第二气缸,所述底座上端一侧固定设置有直线电机,所述底座远离直线电机的一侧固定设置有两个滑轨,两个所述滑轨上端均滑动设置有两个滑块,两个所述滑轨两侧均固定设置有橡胶块。本实用新型提出的一种芯片质量检测的测试机用放置台,该装置使用直线电机,直线电机工作较为准确,精度较高,在设备工作过程中可以实现较为精确的定位,提高设备检测的准确性。

基本信息
专利标题 :
一种芯片质量检测的测试机用放置台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123241554.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-22
授权号 :
CN216595193U
授权日 :
2022-05-24
发明人 :
李风燕石雷路立群
申请人 :
山东赛克罡正半导体有限公司
申请人地址 :
山东省济南市济阳区济北开发区黄河大街19号院内厂房E3-101室
代理机构 :
徐州鑫鹏专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
曹加燕
优先权 :
CN202123241554.5
主分类号 :
G01R1/02
IPC分类号 :
G01R1/02  G01R31/01  G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
法律状态
2022-05-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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