本实用新型公开了一种芯片承载盘外观检测装置，该检测装置旨在解决现有技术下无法对废料进行收集，废料只能运送出去，不能很好地储存起来，造成了不必要的经济损失的技术问题。该检测装置包括检测台、设置于所述检测台上侧用于输送物料的输送模块、设置于所述输送模块上侧用于外观检测的检测模块、设置于所述检测台内侧用于回收废料的回收模块；所述检测模块右侧设有用于移送废料的转运模块，所述输送模块前侧设有用于防掉落的挡框，所述挡框左侧设有用于驱动的第一电机。该检测装置通过回收模块的设置，可以对不合格的残次品进行收集，将其储存起来，以便后续再次加工使用，可以避免材料的浪费，减少了不必要的经济损失。