本发明涉及芯片检测技术领域，具体公开了一种芯片外观检测系统及方法，包括工作台、调节架、平面镜、支撑组件、光源和镜头，光源和镜头依次安装在支撑组件上，调节架包括底杆、横杆和活动杆，底杆的一端与工作台固定连接，底杆的另一端与横杆的一端转动连接，活动杆的一端与横杆的另一端转动连接，平面镜安装在活动杆的另一端。通过将待检测芯片放置在工作台上，将横杆绕底杆转动，还可将活动杆绕横杆转动，调整平面镜位置，之后开启光源，平面镜将光源提供的光投射至被检测芯片，并将经被检测芯片反射后的光原路返回，之后镜头检测经被检测芯片反射后的光并进行成像并传输至计算机显示，便于操作者观察芯片外观，提升检测精准性。