大平面工件外观检测系统
授权
摘要

本实用新型涉及大平面工件外观检测系统,具有工作平台;工作平台上固定设有滑轨;滑轨上滑动设有滑块;工作平台上设有用于驱动滑块沿滑轨滑动的第一驱动装置;滑块上设有用于待检工件的定位平台;定位平台上设有用于吸附待检工件的真空吸头;工作平台上的机架上设有用于拍摄工件的大平面的第一摄像组件;第一摄像组件位于滑轨的上方;第一摄像组件包括第一线扫描工业相机以及与第一线扫描工业相机配合使用的第一线性光源;第一线扫描工业相机固定连接在机架上且用于拍摄工件的大平面;第一线性光源固定连接在机架上且用于向工件的大平面照射;工作平台上位于滑轨的一端设有定位板。本实用新型能够随着大平面工件的移动,对其大平面进行外观检测。

基本信息
专利标题 :
大平面工件外观检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922416362.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-29
授权号 :
CN212207133U
授权日 :
2020-12-22
发明人 :
裴卫巍潘正颐侯大为王罡
申请人 :
常州微亿智造科技有限公司
申请人地址 :
江苏省常州市钟楼区星港路58号
代理机构 :
常州易瑞智新专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
周浩杰
优先权 :
CN201922416362.X
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-12-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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