本发明提出了一种芯片外观不良识别方法和系统，所述方法包括：在芯片进入电性能检测装置之前的传送装置上，对准备进行电性能检测的待测芯片进行扫描和第一次自然数编码；在电性能检测装置的过程中，将所述存在不良外观标定识别码及所述存在不良外观标定识别码的芯片所对应的第一次自然数编码发送至所述电性能检测装置的控制系统中；在进入所述电性能检测装置之后，且在所述电性能检测装置在对每个芯片进行电性能检测之前，按芯片传送顺序进行芯片扫描，并对扫描到的芯片进行第二次自然数编码；利用所述不良外观标定识别码、第一次自然数编码和第二次自然数编码，确定是否对所述待测芯片进行电性能检测。所述系统包括与所述方法步骤对应的模块。