本发明公开了一种IC芯片外观检测吸料机构，包括底座，所述底座的一侧设有载有芯片的托盘，所述工作台的一侧设有对托盘进行运输的传送带，所述传送带的一侧设有对托盘进行吸附的真空吸盘，所述所述传送带的一侧设有在真空吸盘运动过程中，对真空吸盘的底部的粉尘进行擦拭的擦拭组件，本发明利用擦拭组件，在真空吸盘返回至托盘的上方过程中，擦拭组件可对真空吸盘底部进行擦拭，进一步保证了真空吸盘的整洁性，使真空吸盘对托盘吸附效果更佳，确保吸附机构的正常运行。