一种插针网格阵列芯片外观检测系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种插针网格阵列芯片外观检测系统，包括主框架和摄像部件。通过一组摄相机加镜头，调节摄像机安装架与主支撑板的夹角，配合光源就实现了对插针网格阵列芯片外观的检测，根据图像处理算法，获取芯片上所有插针针尖特征位置，并进行计算，可以得出插针针尖特征是否有缺失、偏移和高低不一致的缺陷，再获取芯片边缘区域，检测是否有基板上油墨的损坏。通过计算机视觉算法，检测芯片外观的二维缺陷和三维缺陷。该系统既能够节约硬件成本，也能够节省安装空间。
基本信息
专利标题 ：
一种插针网格阵列芯片外观检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920561426.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-23
授权号 ：
CN209858411U
授权日 ：
2019-12-27
发明人 ：
王鹏
申请人 ：
王唐（苏州）机器人智能科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区通园路80号内二号楼五层B217
代理机构 ：
浙江和纳律师事务所
代理人 ：
郑重
优先权 ：
CN201920561426.2
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/956
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2019-12-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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