本实用新型公开了一种TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组，涉及芯片检测技术领域。本实用新型包括底座、芯片，底座的长度方向上滑动连接有相机、检测组件,底座的宽度方向上连接有连接框，连接框位于检测组件和相机之间。本实用新型通过设置的检测组件，并且由于使用了多片反光镜以及半透半反镜片，使检测装置能够多维度检测产品的外观，相对于现有的模组，减少了模组的空间占用并且提升芯片检测指标，提高了芯片检测效率，通过设置的相机，相机可以更好的对芯片进行检测，从而提高了装置的实用性。