一种集成电路芯片的外观检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种集成电路芯片的外观检测装置,包括立柜和连接板,所述立柜的前表面转动安装有柜门,所述立柜的内部下方固定安装有散热座,所述散热座的上表面固定安装有支撑柱,所述支撑柱的上端固定连接有防护板,所述防护板的上表面转动连接有固定盘,所述固定盘的外表面固定连接有对接盘,所述对接盘的上表面固定安装有护环,所述立柜的顶壁下方固定安装有散光板,所述立柜的两侧上方均固定安装有卡块,所述连接板的前表面固定安装有蓄电池,所述连接板的前表面位于蓄电池的下方固定连接有对接块。本实用新型使外观检测装置便于拆卸维护,并且提高了外观检测装置的检测精度,具有实用性。

基本信息
专利标题 :
一种集成电路芯片的外观检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202121979173.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-08-23
授权号 :
CN216309833U
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
王佳顾卫民吴卓鸿曹必红
申请人 :
无锡芯启博电子有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新吴区汉江路15号26号厂房一楼
代理机构 :
苏州吴韵知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王铭陆
优先权 :
CN202121979173.4
主分类号 :
G01N21/956
IPC分类号 :
G01N21/956  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/956
检测物品表面上的图案
法律状态
2022-04-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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