本实用新型涉及芯片检测技术领域，且公开了一种集成电路芯片检测装置，包括支撑板，所述支撑板的一端通过竖杆连接在操作台的顶部，所述支撑板的底部设有检测设备，所述检测设备的底部设有若干检测针，所述支撑板的顶部设有控制设备，所述检测设备通过导线和控制设备进行电性连接，所述控制设备上设有若干按钮、显示灯，所述操作台的顶部通过若干转轴转动连接有若干转动辊，若干所述转动辊连接在传送带内，若干所述转轴通过传动装置和驱动电机相连接，所述驱动电机和位于端部的一个转轴相连接，所述驱动电机连接在操作台的侧壁上；本实用新型可通过检测针对引脚进行检测，缓解了工作人员的视觉疲劳，同时可提高检测的效率。