集成电路芯片内部的高精度电流检测装置

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摘要

本申请包括一种集成电路芯片内部的高精度电流检测装置，具体涉及电流检测技术领域。在该装置中，第一开关管与第二开关管的栅极相连、第一开关管与第二开关管的源极相连；第二开关管的漏极通过第一电阻与第一开关管的漏极连接；第一开关管的漏极与第二跟随器连接，并接入目标减法器的反相输入端；第二开关管的漏极与第一跟随器连接，并接入目标减法器的同相输入端；目标减法器的输出端接入比较器的正端，以便与比较器的负端上的基准电压进行比较，从而输出比较结果。上述方案尽可能降低了第一开关管与第二开关管的镜像电路比例偏差，提高了电流检测的准确性。

基本信息

专利标题：

集成电路芯片内部的高精度电流检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN114047798A

申请号：

CN202210029225.4

公开（公告）日：

2022-02-15

申请日：

2022-01-12

授权号：

CN114047798B

授权日：

2022-04-29

发明人：

不公告发明人

申请人：

苏州贝克微电子股份有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市高新区科技城科灵路78号

代理机构：

北京三聚阳光知识产权代理有限公司

代理人：

陈刚

优先权：

CN202210029225.4

主分类号：

G05F1/56

IPC分类号：

G05F1/56 G01R19/00