一种芯片的漏电流检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片的漏电流检测设备，其结构包括传送带、检测箱、芯片载盘、载台，传送带安装在载台上，检测箱位于载台顶端，检测箱和载台焊接连接，芯片载盘位于传送带上，传送带设有传送带卡槽，芯片载盘与传送带卡槽卡合连接；检测箱设有气管、伸缩臂、液压机、数据传输线、检测结构、检测箱箱体，当遇到大小不同芯片的时候可以让气缸工作控制活塞杆长度使测试针能够与引脚接触。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片的漏电流检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920567290.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-24
授权号 ：
CN210572595U
授权日 ：
2020-05-19
发明人 ：
王淑琴
申请人 ：
深圳市希进光科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区华强北街道华航社区华强北路1019号华强广场B、C、D座6层Q6E1020
代理机构 ：
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵爱蓉
优先权 ：
CN201920567290.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/52 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-05-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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