一种用于检测芯片漏电流的检测设备
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摘要

本实用新型涉及芯片技术领域的一种用于检测芯片漏电流的检测设备,包括装置主架,所述装置主架的中间安装有输送带,所述输送带的前表面中间设置有检测架,所述输送带的前表面底端安装有芯片放置板,所述芯片放置板的前表面开设有三个放置槽,三个所述放置槽的内部均安装有承载块,所述承载块的后表面固定连接有推杆,所述推杆的前表面和后表面均安装有固定导轨。通过设计的安装在放置槽内部的承载块、推杆、锁止件、固定导轨和转动座便于对芯片放置在放置槽中进行检测,同时方便拿取,在拿取时只需按压芯片,则承载块可在限位弹簧的作用下向上移动,带动芯片从放置槽中移出,大大的节省了工作人员对芯片的拿取时间,带来了很好的发展前景。

基本信息
专利标题 :
一种用于检测芯片漏电流的检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122896854.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-24
授权号 :
CN216351153U
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
郑云华
申请人 :
合肥矽景电子有限责任公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区望江西路800号创新产业园A3楼516室
代理机构 :
苏州大智知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
赵枫
优先权 :
CN202122896854.0
主分类号 :
G01R31/52
IPC分类号 :
G01R31/52  G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/52
测试短路、泄漏电流或接地故障
法律状态
2022-04-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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