一种高精度的集成电路芯片检测装置

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种高精度的集成电路芯片检测装置，包括检测装置本体，所述检测装置本体底部设置有第一密封腔，所述第一密封腔底部设置有四个吸盘，所述检测装置本体两端均固定设置有第二密封腔，两个所述第二密封腔与第一密封腔之间均连接有连接管，两个所述第二密封腔内均设置有活塞。本实用新型通过电机正转带动转轴以及两个螺纹杆转动，两个螺纹杆同时转动带动两个连接杆以及两个活塞向上移动，在密封垫的作用下，两个第二密封腔以及第一密封腔内的气压降低，此时四个吸盘与桌面吸紧，当两个连接杆移动至两个第二密封腔顶部时，将电机关闭，四个吸盘实现第一密封腔实现固定，从而检测装置本体实现固定。

基本信息

专利标题：

一种高精度的集成电路芯片检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020637475.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-24

授权号：

CN212180968U

授权日：

2020-12-18

发明人：

不公告发明人

申请人：

胤达智能科技（昆山）有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市昆山市陆家镇顺铁路99号2号厂房302室

代理机构：

苏州周智专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

周雅卿

优先权：

CN202020637475.2

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04