本发明属于芯片检测设备技术领域，尤其是涉及一种用于集成电路芯片检测设备及检测方法，包括支架，所述支架的内侧壁上滑动连接有升降座，所述升降座采用中空结构，所述支架上安装有气缸，所述气缸的输出端与升降座固定连接，所述升降座的内壁上滑动连接有压板，所述压板的下表面安装有探针，所述压板通过第一弹簧与升降座的内顶面连接，所述升降座的底部开设有与探针匹配的通孔，所述通孔内贯穿固定连接有与之共轴的套管。本发明可对探针进行良好的防护，降低灰尘和检测过程中产生的碎屑附着至探针表面，并且在连续检测过程中，可通过刷毛对探针表面进行清扫，进一步保证探针与引脚的良好接触，保证检测效果。