一种高精度集成电路检测设备

授权

摘要

本实用新型公开了一种高精度集成电路检测设备，主要包括外框、控制器、直线模组、插拔结构、夹持结构和传送带，所述外框右部固定安装有传送带，传送带顶端固定安装有夹持结构，所述外框内侧左上部装配安装有插拔结构，所述外框顶端左后固定安装有胶垫，所述外框顶端后部固定安装有直线模组，直线模组中部通过螺栓装配安装有滑架。本实用新型在结构上设计合理，本检测设备自动进行定位、夹持、检测接口插拔等基础操作，使用者劳动量小，且不用直接接触通电元件和主板，安全性高，数控补偿配合机械定位，不易出错损坏产品接口或者设备检测用接口的情况；且相比人工定位，精度高，调节方便，对不同尺寸的待检测主体适用性强。

基本信息

专利标题：

一种高精度集成电路检测设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921314346.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-14

授权号：

CN210626614U

授权日：

2020-05-26

发明人：

杨洪胜

申请人：

深圳圣誉电子有限公司

申请人地址：

广东省深圳市光明新区公明街道李松蓢第一工业区90-6栋9楼A区

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201921314346.3

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28