一种集成电路的外观检测装置
授权
摘要

本实用新型属于检测设备技术领域,尤其为一种集成电路的外观检测装置,针对现有的集成电路外观检测需要手持进行翻转检查效率低且易对电路板造成损坏的问题,现提出如下方案,其包括第一箱体,所述第一箱体的底部两侧均设置有支撑板,第一箱体的顶部设置有第二箱体,第二箱体的底部内壁上固定安装有双轴电机,双轴电机的第一输出轴和第二输出轴上均固定连接有第一轴的一端,本实用新型通过双轴电机、空心杆、撑杆等构件之间的相互配合,能够有效的带动夹持板进行旋转,同时通过横板、拉绳等构件之间的相互配合,能够使夹持板对电路板进行稳定的夹持,便于观察,使用方便。

基本信息
专利标题 :
一种集成电路的外观检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021780271.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-24
授权号 :
CN212904588U
授权日 :
2021-04-06
发明人 :
杨光
申请人 :
深圳市博盛盈科供应链有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市福田区华强北街道振华路中航苑鼎诚大厦2017
代理机构 :
北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
饶富春
优先权 :
CN202021780271.0
主分类号 :
G01N21/956
IPC分类号 :
G01N21/956  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/956
检测物品表面上的图案
法律状态
2021-04-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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