本发明公开了一种用于测量荧光或冷光发射衰变的光电子系统。该光电子系统：包括(a)光源，其是发光二极管、半导体激光器或闪光管；(b)第一集成电路，其包括至少一个电路，所述电路引起所述光源向样本发射光脉冲，这引起来自所述样本的荧光或冷光发射；(c)光电二极管，其检测所述发射；(d)第二集成电路，其包括检测分析系统，所述检测分析系统通过分析检测到的发射的衰变来确定关于所述样本的信息；以及(e)外壳，其包封所述光源、所述第一集成电路、所述第二集成电路和所述光电二极管。