角度扫描表面等离子体共振测量系统
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明公开了一种角度扫描SPR测量系统，其根据控制信号在偏转角范围内偏转光束，并将已偏转光束映射到与偏转角范围对应的入射角范围内的目标。
基本信息
专利标题 ：
角度扫描表面等离子体共振测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1766575A
申请号 ：
CN200510108184.4
公开（公告）日 ：
2006-05-03
申请日 ：
2005-10-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
格雷戈里·D·范维格瑞恩道格拉斯·M·巴内
申请人 ：
安捷伦科技有限公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
柳春雷
优先权 ：
CN200510108184.4
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41 G02F1/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
2009-06-03 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-06-28 ：
实质审查的生效
2006-05-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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