结合有光检测器阵列的灵敏度增强的差示折射计
授权
摘要
本发明提供了一种结合有光检测器阵列的改进型差示折射计。使用多元件型光阵列为差示折射率值测量兼具测量灵敏度以及并存的测量范围提供了基础,这是迄今为止还未实现过的。在可获得的、大的动态范围内,无论在该范围内的偏转如何,该检测器结构均提供了相同的灵敏度。透射光束被修整,以在所述阵列上提供光强度的空间变化,从而提高其位移测量的精确度。这进而又会提高差示折射率以及差示折射率增量dn/dc计算的精确度。对于样品量远小于传统差示折射计所需样品量的情况而言,将所述检测器阵列并入到母案的流动单元结构中将会获得一个具有极佳灵敏度和范围的检测器。
基本信息
专利标题 :
结合有光检测器阵列的灵敏度增强的差示折射计
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1758052A
申请号 :
CN200510108269.2
公开(公告)日 :
2006-04-12
申请日 :
2005-10-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
M·I·拉金S·P·琴诺夫
申请人 :
怀亚特技术公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 :
赵蓉民
优先权 :
CN200510108269.2
主分类号 :
G01N21/41
IPC分类号 :
G01N21/41
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
法律状态
2012-05-30 :
授权
2007-12-05 :
实质审查的生效
2006-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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