全差示分光光度计
视为撤回的专利申请
摘要
一种利用全差示光度法对物质成分做定量分析用的分光光度计，该仪器中所设的全差示机构，是完全根据全差示分光光度法理论所提供的准确的数字模型，即全差示吸光度定义A′＝Lg(i+1)/(i+T)进行设计的，是一个与等效调零参比相当的反向微电流参数系统。该仪器可同时适用于低含量、痕量和高含量成分的测定，即可以在1×10-9％～99.9％含量范围内自由设计测量精度。而且，与一般分光光度计相比，其灵敏度提高10—100倍，从而解决了其它分光光度计所无法解决的一些分析测试难题。
基本信息
专利标题 ：
全差示分光光度计
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86107439A
申请号 ：
CN86107439.4
公开（公告）日 ：
1988-05-25
申请日 ：
1986-12-12
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
管宗颉
申请人 ：
青岛市建筑材料研究所
申请人地址 ：
山东省青岛市四流南路8号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN86107439.4
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
1991-10-09 ：
视为撤回的专利申请
1989-08-23 ：
实质审查请求
1988-05-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
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