利用数字测试仪测量模拟信号的方法
发明专利申请公布后的驳回
摘要
本发明公开了一种利用数字测试仪测试模拟量的方法。先通过测试仪内部自带数字化仪器将被测模拟信号转换为数字信号，存入存储器中，此时存储器里的数据实际上是对信号的如实反映。所以，要求得被测模拟信号的具体参数值时，只需将存储器里的数据进行处理就可以了。本发明操作简单，可获得比较理想的测试结果。
基本信息
专利标题 ：
利用数字测试仪测量模拟信号的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1979199A
申请号 ：
CN200510111041.9
公开（公告）日 ：
2007-06-13
申请日 ：
2005-12-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王逸峰
申请人 ：
上海华虹NEC电子有限公司
申请人地址 ：
201206上海市浦东新区川桥路1188号
代理机构 ：
上海浦一知识产权代理有限公司
代理人 ：
丁纪铁
优先权 ：
CN200510111041.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2009-07-29 ：
发明专利申请公布后的驳回
2007-08-08 ：
实质审查的生效
2007-06-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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