确定膜污染致密程度的定量方法
专利权的终止
摘要
一种环保技术领域的确定膜污染疏松程度的定量方法，包括以下步骤：切取已污染的膜片，尺寸范围1cm×1cm～10cm×10cm；采用原子力显微镜对已污染的膜表面进行扫描，得到膜表面的三维形貌，扫描面积范围5μm×5μm～250μm×250μm；通过对三维图表面进行分形计算，得到容量维数dv，容量维数dv大，表明污染质占据容间的能力大，膜污染的结构致密，相反则疏松。膜污染的容量维数dv在1～3之间。本发明在现有技术定量表征膜污染程度的基础上，定量表征了膜污染的结构特征，具体地说，定量表征了膜污染致密程度。本发明在克服膜污染的运行工艺策略选择上提供了简明而有效的判据。
基本信息
专利标题 ：
确定膜污染致密程度的定量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1793834A
申请号 ：
CN200510111226.X
公开（公告）日 ：
2006-06-28
申请日 ：
2005-12-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
靳强邵嘉慧何义亮吕剑张静云
申请人 ：
上海交通大学
申请人地址 ：
200240上海市闵行区东川路800号
代理机构 ：
上海交达专利事务所
代理人 ：
王锡麟
优先权 ：
CN200510111226.X
主分类号 ：
G01N13/16
IPC分类号 ：
G01N13/16
法律状态
2017-01-25 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101699593569
IPC(主分类) : G01N 13/16
专利号 : ZL200510111226X
申请日 : 20051208
授权公告日 : 20090603
终止日期 : 20151208
号牌文件序号 : 101699593569
IPC(主分类) : G01N 13/16
专利号 : ZL200510111226X
申请日 : 20051208
授权公告日 : 20090603
终止日期 : 20151208
2009-06-03 ：
授权
2006-08-23 ：
实质审查的生效
2006-06-28 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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